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新思科技快速软错误分析技术提高汽车功能安全
SpyGlass DFT ADV指导设计变更以提升ISO 26262指标

美国加利福尼亚山景城,2018 年 10 月 29 日--

亮点:

  • SpyGlass DFT ADV 根据软错误产生的影响,计算I SO 26262 单点故障指标(SPFM)
  • RTL 级或门级快速静态分析可确保对设计进度的影响最小
  • 生成对 SPFM 产生负面影响的设计模块和寄存器的有序列表,可实现自动、高效的设计提升
  • 使用 IC Compiler II 实现基于分析的变更并利用 Formality 进行验证,确保最高效、最稳健的设计变更
     

新思科技(纳斯达克股票代码:SNPS)近日宣布在其 SpyGlass® DFT ADV 工具中正式推出了新的软错误分析功能。这种分析功能生成的输出,能够直接指导高效的设计变更,从而以最低成本实现 ISO 26262 功能安全目标指标的提升。分析可以在 RTL 级或门级网表的设计流程早期执行,从而最大限度地减少对设计进度的影响。就算是规模最大的设计,分析也只需几个小时。SpyGlass DFT ADV 完全通过 ISO 26262 认证,支持用于汽车设计。

由软错误引起的瞬态故障可能会导致安全关键电子设备运行期间发生灾难性故障。ISO 26262 功能安全标准所定义的 SPFM 中反映了避免此类故障发生的概率。标准中,针对每个定义的汽车安全等级,规定了必需的最低 SPFM 值。软错误的主要影响是寄存器状态意外改变,因此提高设计的 SPFM 值的常用方法是使用容错寄存器,如使用三模冗余触发器表决的方法。使用这类寄存器必须仔细挑选,以使面积代价最小化。

松下技术与产品开发中心总工程师 Akio Hirata 表示:“解决软错误效应是实现设计必要功能安全级别的关键一环。通过 SpyGlass DFT ADV 提供的快速指标分析和触发器识别功能,我们能够达到必需的 ISO 26262 SPFM 级别,同时满足严格的面积成本限制和设计周转时间目标。”

SpyGlass DFT ADV 工具可在设计周期早期计算 SPFM 指标。基于信号概率传播的独特静态分析方法可准确地估算设计任何部分的 SPFM 指标。通过利用此方法,设计团队有能力识别并有效解决 SPFM 热点。在最低级别,根据每个触发器对 SPFM 损耗的贡献来生成设计的触发器列表并对其排序。然后,可以轻松地确定,要达到期望的 SPFM 值,至少需要将多少常规触发器替换为容错触发器。确定具体数量后,即可根据基于所生成的最少列表在布局布线流程中执行触发器替换。将新思科技的 Test Fusion 技术与 IC Compiler™II 布局布线系统组合使用时,还可以无缝地实现进一步的优化,如确保添加的三模冗余触发器之间留有最小触发器间距,以避免发生多位翻转事件。随后可以使用 Formality® 等效性检查功能来验证所有变更,以确保设计一致性。或者,可以使用其他方法来管理导致 SPFM 总损耗的较大逻辑块,如添加冗余模块或添加安全监视器。设计完成后,可以使用基于仿真的故障注入方法(如新思科技 Z01X™ 功能安全保障解决方案提供的方法)来执行最终的 SPFM 指标验证。

新思科技芯片设计事业部营销高级总监 Steve Pateras 表示:“用户越来越关注在设计中能否达到必要的功能安全级别。我们将继续专注于提供相关解决方案,帮助用户达到必要的安全指标,同时将对其设计和整体开发进度的影响降至最低。”

 

关于新思科技

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